Измеритель параметров ультразвуковых колебательных систем

Барсуков Р.В., Абраменко Д.С., Ильченко Е.В.
International conference and seminar on micro/nanotechnologies and electron devices EDM 2010 01.01.2010

Нужна консультация по подбору оборудования?

Наши инженеры помогут подобрать оптимальное решение для ваших технологических задач. Получите бесплатную консультацию и расчет стоимости.