Контроль параметров ультразвуковых аппаратов при использовании различных рабочих инструментов

Хмелев В.Н., Барсуков Р.В., Ильченко Е.В., Кузовников Ю.М.

XIV Международная конференция - семинар молодых специалистов по микро- и нанотехнологиям и электронным устройствам EDM' 2013 01.01.2013

Нужна консультация по подбору оборудования?

Наши инженеры помогут подобрать оптимальное решение для ваших технологических задач. Получите бесплатную консультацию и расчет стоимости.