Контроль распределения амплитуды колебаний на излучающих поверхностях источников ультразвукового излучения

Хмелев В.Н., Цыганок С.Н., Левин С.В., Демьяненко М.В., Шакура В.А.

XV Международная конференция - семинар молодых специалистов по микро- и нанотехнологиям и электронным устройствам EDM' 2014 01.01.2014

Нужна консультация по подбору оборудования?

Наши инженеры помогут подобрать оптимальное решение для ваших технологических задач. Получите бесплатную консультацию и расчет стоимости.